OmniScanX4相控陣探傷儀在腐蝕檢測領域應用

，簡便易行

OmniScan X4探傷儀 

腐蝕檢測，簡便易行

利用相控陣技術進行腐蝕檢測具有很多優勢，其中包括較大的覆蓋范圍和出色的分辨率。但是，熟練掌握相控陣技術具有一定的挑戰性。OmniScan X4探傷儀通過精心設計的軟件和簡單流暢的菜單提供高級功能，從而可使您簡單輕松地獲得準確的數據。

其全聚焦方式（TFM）和相位相干成像（PCI）等高級工具有助于檢測腐蝕和其他具有挑戰性的損壞機制，如高溫氫致缺陷（HTHA）和氫致裂紋（HIC）

最多使用64晶片孔徑可生成PCI和TFM圖像，只需稍微設置即可獲得出色的分辨率

任何水平的操作人員在使用儀器時都會感到更加得心應手

由于有了用于腐蝕的應用預設，設置包括HydroFORM掃查器或者FlexoFORM掃查器的復雜掃查計劃，，就變得更加容易

腐蝕檢測，簡便易行

大文件容量可以實現更快的數據通量，并可進行不間斷的掃查

使用一個25 GB的大容量文件，可以掃查一個大13米2的區域，還可以對大型管道進行完整的周向掃查。

檢測人員正在使用相控陣探傷儀進行腐蝕檢測

用于條件艱苦的環境

10.6英寸WXGA顯示屏上的圖像清晰可見

觸摸顯示屏反應靈敏，即使在帶著手套、粘有耦合劑，或者在雨中操作時，其靈敏度也不會降低

符合IP65評級標準，防塵防水

可在-10°C到45°C的溫度范圍內正常操作，不會影響其符合IP65評級的認證

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